机译:校准计算机层析成像系统的方法,该方法用于计算例如用于检查患者心室的二维截面图,涉及通过最小化成本函数来确定缺陷的大小
公开/公告号DE102012211506A1
专利类型
公开/公告日2014-01-09
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;
申请/专利号DE201210211506
申请日2012-07-03
分类号A61B6/03;A61B19/00;G06T7/00;H04N17/00;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 15:37:43