机译:集成电路,具有检查模块,该检查模块设置为控制传感器或仪表,以便提供代表物理量的测量值,如果测量值与预设值不符,则该模块会锁定电路的操作
公开/公告号FR2998695A1
专利类型
公开/公告日2014-05-30
原文格式PDF
申请/专利权人 ALTIS SEMICONDUCTOR;
申请/专利号FR20120061387
发明设计人 AMIROUCHE ALLEL ELHADI;
申请日2012-11-29
分类号G06F21/75;
国家 FR
入库时间 2022-08-21 15:36:31