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Analyzer of the analysis methods and grain orientation of the crystal grain orientation

机译:分析仪的晶粒取向分析方法和晶粒取向

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To analyze a crystalline domain automatically.SOLUTION: In an analytical method for a crystal grain orientation, for each of plural areas of an electron microscope image, Fourier transformation is performed to generate a Fourier image (S16), intensity of the Fourier image with respect to an angle is calculated (S18), and a crystalline domain in the electron microscope image is analyzed based on the intensity (S26).
机译:解决的问题:自动分析晶域解决方案:在晶粒取向分析方法中,对电子显微镜图像的多个区域中的每个区域进行傅立叶变换以生成傅立叶图像(S16),强度为计算相对于角度的傅立叶图像(S18),并基于强度分析电子显微镜图像中的晶畴(S26)。

著录项

  • 公开/公告号JP5668561B2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-02-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号JP20110064596

  • 发明设计人 小▲高▼ 康稔;山▲崎▼ 貴司;

    申请日2011-03-23

  • 分类号G01N23/04;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 15:30:13

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