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Halftone mask, a manufacturing method of a halftone mask blank and a halftone mask.

机译:半色调掩模,半色调掩模坯料和半色调掩模的制造方法。

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a halftone mask capable of suppressing side etching of an etching stopper layer in washing processing using concentrated sulfuric acid.;SOLUTION: A halftone mask comprises a transparent part TA, a semitransparent part HA and a light shielding part PA. The light shielding part PA includes a substrate S, a semitransparent layer 11, a light shielding layer 13 provided on the semitransparent layer and made of Cr or a Cr compound, and an etching stopper layer 12 provided between the semitransparent layer 11 and the light shielding layer 13. The etching stopper layer 12 includes a first element and a second element. The first element is at least one kind of element selected from a group consisting of Mo and W, and has a composition ratio of 6.4 mol% or more and 38.2 mol% or less. The second element is at least one kind of element selected from a group consisting of Zr, Nb, Hf and Ta.;COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种半色调掩模,该半色调掩模能够抑制在使用浓硫酸的清洗过程中蚀刻停止层的侧面蚀刻。解决方案:半色调掩模包括透明部分TA,半透明部分HA和遮光部分PA。 。遮光部PA包括基板S,半透明层11,设置在该半透明层上并由Cr或Cr化合物制成的遮光层13,以及设置在该半透明层11与该遮光之间的蚀刻阻挡层12。蚀刻停止层12包括第一元素和第二元素。第一元素是选自由Mo和W组成的组中的至少一种元素,并且具有6.4摩尔%以上且38.2摩尔%以下的组成比。第二元素是选自由Zr,Nb,Hf和Ta组成的组中的至少一种元素。版权所有:(C)2012,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP5728223B2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-06-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 アルバック成膜株式会社;

    申请/专利号JP20100290403

  • 发明设计人 影山 景弘;中村 大介;

    申请日2010-12-27

  • 分类号G03F1/00;G03F1/82;G03F1/80;G03F1/48;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 15:29:24

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