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METHOD FOR HEIGHT CONTROL FOR SINGLE ELECTRON TUNNELING FORCE SPECTROSCOPY AND DYNAMIC TUNNELING FORCE MICROSCOPY

机译：单电子隧道力谱和动态隧道力显微镜的高度控制方法

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摘要

Height control systems and/or methods are implemented for dynamic force tunneling microscopy and single electron tunneling force spectroscopy to improve their accuracy.

机译：实施高度控制系统和/或方法以用于动态力隧穿显微镜和单电子隧穿力谱以提高其准确性。

著录项

公开/公告号US2014366228A1

专利类型
公开/公告日2014-12-11

原文格式PDF
申请/专利权人 THE UNIVERSITY OF UTAH RESEARCH FOUNDATION;
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申请/专利号US201414448828
发明设计人 CLAYTON COVEY WILLIAMS;JON PAUL JOHNSON;
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申请日2014-07-31
分类号G01Q10/06;
国家 US
入库时间 2022-08-21 15:24:27

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