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Interconnection designs and materials having improved strength and fatigue life

机译:具有改善的强度和疲劳寿命的互连设计和材料

摘要

Methods and designs for increasing interconnect areas for interconnect bumps are disclosed. An interconnect bump may be formed on a substrate such that the interconnect bump extends beyond a contact pad onto a substrate. An interconnect bump may be formed on a larger contact pad, the bump having a large diameter.
机译:公开了用于增加用于互连凸块的互连面积的方法和设计。互连凸块可以形成在基板上,使得互连凸块延伸超过接触垫到基板上。互连凸块可以形成在较大的接触垫上,该凸块具有大的直径。

著录项

  • 公开/公告号US9136239B2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-09-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;

    申请/专利号US201414171458

  • 发明设计人 TERRY LEE STERRETT;RICHARD J. HARRIES;

    申请日2014-02-03

  • 分类号H01L23;B29C70/58;B29C70/88;C08J5/10;C08L101/12;H05K3/32;B29C39/02;B29L31/34;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:21:42

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