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Resting blocks of memory cells in response to the blocks being deemed to fail

机译:响应于被认为发生故障的存储单元来休息存储块

摘要

In an embodiment, a block of memory cells is rested in response to the block of memory cells being deemed to fail. For some embodiments, a rested block may be selected for use in response to passing an operation. In other embodiments, a rested block may be rested again or may be permanently retired from further use in response to failing the operation.
机译:在一个实施例中,响应于该存储单元块被认为发生故障,存储单元块被搁置。对于一些实施例,可以响应于通过操作来选择休息块以供使用。在其他实施例中,响应于操作失败,可以再次放置被搁置的块,或者可以将其永久地退出进一步使用。

著录项

  • 公开/公告号US9183070B2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-11-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;

    申请/专利号US201313949560

  • 发明设计人 TODD MARQUART;SAMPATH RATNAM;SEAN EILERT;

    申请日2013-07-24

  • 分类号G06F11/07;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:18:56

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