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Methods for fabricating integrated circuits including generating e-beam patterns for directed self-assembly

机译:制造集成电路的方法,包括产生用于定向自组装的电子束图案

摘要

Methods for fabricating integrated circuits are provided. In one example, a method for fabricating an integrated circuit includes generating an e-beam pattern for forming a DSA directing pattern on a semiconductor substrate. The DSA directing pattern is configured to guide a self-assembly material deposited thereon that undergoes directed self-assembly (DSA) to form a DSA pattern. Generating the e-beam pattern includes using a computing system, inputting a DSA target pattern. Using the computing system, the DSA target pattern, a DSA model, and an EBPC model, an output EBPCed pattern is produced for an e-beam writer to write on a resist layer that overlies the semiconductor substrate.
机译:提供了制造集成电路的方法。在一个示例中,一种用于制造集成电路的方法包括:生成电子束图案,该电子束图案用于在半导体衬底上形成DSA引导图案。 DSA引导图案被配置为引导沉积在其上的自组装材料,该自组装材料经历定向自组装(DSA)以形成DSA图案。产生电子束图案包括使用计算系统,输入DSA目标图案。使用计算系统,DSA目标图案,DSA模型和EBPC模型,可以生成输出EBPCed图案,以供电子束写入器在覆盖半导体衬底的抗蚀剂层上进行写入。

著录项

  • 公开/公告号US9023730B1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-05-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 GLOBALFOUNDRIES INC.;

    申请/专利号US201314072164

  • 发明设计人 VITO DAI;YI ZOU;AZAT LATYPOV;

    申请日2013-11-05

  • 分类号H01L21/311;G06F17/50;H01L21/027;H01L21/033;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:17:20

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