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HARMONIC RATIO BASED DEFECT CLASSIFIER

机译:基于谐波比率的缺陷分类器

摘要

is the disclosure is the detection of at least one of the media defect , and a system and method for classification . The periodic pattern is writing to the media to yield at least one waveform . The size of the waveform to detect the presence or absence of defect is compared to the medium in a medium defect threshold . If the at least one defect detected, the size of each of the at least two harmonics of the waveform is determined in the fault range . Defects are classified by comparing the ratio of the size of the at least two harmonics and classification threshold . ;
机译:本发明是对介质缺陷中至少一个的检测,以及用于分类的系统和方法。周期性图案正在写入介质以产生至少一个波形。将检测缺陷存在或不存在的波形大小与介质缺陷阈值中的介质进行比较。如果检测到至少一个缺陷,则在故障范围内确定波形的至少两个谐波中的每个谐波的大小。通过比较至少两个谐波的大小之比与分类阈值来对缺陷进行分类。 ;

著录项

  • 公开/公告号KR101475162B1

    专利类型

  • 公开/公告日2014-12-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20130140550

  • 申请日2013-11-19

  • 分类号G01R31/3183;G01R23/02;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 15:01:04

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