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MEASUREMENT OF DEPRESSION DEPTH WITH FRONTAL LOBE BRAIN WAVES

机译:用额叶脑波测量抑郁深度

摘要

A method for measuring depression depth using a frontal brain wave is disclosed. The method for measuring the depth of depression comprises the steps of: obtaining frontal EEG data of a user from an EEG (electroencephalogram) measuring device; Converting the frontal brain EEG data into a frequency band through Fast Fourier Transform; And measuring the depth of depression of the user through power analysis of an alpha wave using a power spectrum of each frequency of the frontal brain EEG data.
机译:公开了一种使用额脑波测量凹陷深度的方法。用于测量凹陷深度的方法包括以下步骤:从EEG(脑电图)测量装置获得用户的额叶EEG数据;以及通过快速傅立叶变换将额叶脑电图数据转换为频带;然后,使用额脑EEG数据每个频率的功率谱,通过对α波的功率分析来测量用户的沮丧深度。

著录项

  • 公开/公告号KR101535352B1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-07-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 세종대학교산학협력단;

    申请/专利号KR20130109836

  • 发明设计人 신동규;신동일;조희준;

    申请日2013-09-12

  • 分类号G06F19;A61B5/0476;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 14:57:57

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