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Calibration of a MEMS gyroscope so as to reduce thermal bias

机译:校准MEMS陀螺仪以减少热偏差

摘要

A method for calibrating a micro-electro-mechanical system (MEMS) vibrating structure gyroscope is provided. The method includes obtaining an indication of a position of at least one proof mass with respect to at least one drive electrode and applying an electrostatic force to the at least one proof mass as a function of the indication, the electrostatic force configured to position the at least one proof mass in a first position with respect to at least one drive electrode.
机译:提供了一种用于校准微机电系统振动结构陀螺仪的方法。该方法包括获得至少一个检测质量相对于至少一个驱动电极的位置的指示,以及根据该指示向该至少一个检测质量施加静电力,该静电力被配置为将所述检测力定位在相对于至少一个驱动电极在第一位置的至少一个检测质量。

著录项

  • 公开/公告号EP2518441B1

    专利类型

  • 公开/公告日2016-04-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HONEYWELL INT INC;

    申请/专利号EP20120164198

  • 发明设计人 SUPINO RYAN;FRENCH HOWARD B.;

    申请日2012-04-13

  • 分类号G01C19/5776;G01C25/00;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 14:51:25

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