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Delay analysis program, delay analysis apparatus, and delay analysis method

机译:延迟分析程序,延迟分析装置以及延迟分析方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To highly accurately estimate a failure factor.;SOLUTION: A selection section 12 selects one of a plurality of activated paths as an analysis object path as for elements reached by the plurality of activated paths among a plurality of elements. A first calculation section 13 calculates the delay distribution of the analysis object path under conditions that the analysis object path is the slowest among the plurality of activated paths on the basis of the delay distribution of each of the plurality of activated paths obtained in a design stage. A second calculation section 14 calculates a value indicating the degree of influence given to the delay by random variation in the plurality of activate paths on the basis of the delay distribution calculated by the first calculation section 13. An analysis section 15 performs delay analysis including the value indicating the degree of influence calculated by the second calculation section 14 as one of delay factors relating to the influence of random variation.;COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT
机译:解决的问题:为了高度准确地估计故障因素。解决方案:选择部分12针对多个元素中的多个激活路径所到达的元素,选择多个激活路径中的一个作为分析对象路径。第一计算部分13基于在设计阶段获得的多个激活路径中的每个激活路径的延迟分布,在多个激活路径中分析对象路径最慢的条件下,计算分析对象路径的延迟分布。 。第二计算部14基于由第一计算部13计算出的延迟分布,计算出表示多个激活路径中的随机变化对延迟造成的影响程度的值。分析部15进行包括以下步骤的延迟分析:表示由第二计算部分14计算的影响程度的值,该影响程度是与随机变化的影响有关的延迟因子之一。版权所有:(C)2013,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP5899810B2

    专利类型

  • 公开/公告日2016-04-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号JP20110240090

  • 发明设计人 金澤 裕治;

    申请日2011-11-01

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 14:39:45

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