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机译:有助于不同深度的错误检测和/或错误校正覆盖范围的存储设备
公开/公告号US9262261B2
专利类型
公开/公告日2016-02-16
原文格式PDF
申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;
申请/专利号US201314059057
发明设计人 WILLIAM H. RADKE;
申请日2013-10-21
分类号G11C29/00;G06F11/10;B32B25/08;B32B27/08;G11C29/04;F16L11/04;
国家 US
入库时间 2022-08-21 14:31:05
机译: 存储器设备有助于不同程度的错误检测和/或错误更正覆盖
机译: 使用逻辑系统校正位中的双重错误,以校正位中的单个错误并检测校验子的位和存储位中的双重错误。
机译: 错误检测与纠正装置,失配检测装置,存储系统以及错误检测与纠正方法