首页> 外国专利> Data structure of defective address information and defective address information encoding method for memory array

Data structure of defective address information and defective address information encoding method for memory array

机译:地址不良信息的数据结构和存储器阵列的不良地址信息编码方法

摘要

A defective address information encoding method for a memory array is provided. A page of the memory array is divided into plural segments. Each segment contains 2m bits. The defective address information encoding method includes the following steps. Firstly, positions of N1 fail bits in a first segment of the plural segments are acquired. Then, an (N1+1)-bit first segment start code is generated. Then, N1 m-bit defective codes are generated. The N1 m-bit defective codes follow the first segment start code to indicate the positions of the N1 fail bits in the first segment, wherein N1 is zero or a positive integer, and m is a positive integer.
机译:提供了一种用于存储器阵列的有缺陷的地址信息编码方法。存储器阵列的页面分为多个段。每个段包含2 m 位。不良地址信息编码方法包括以下步骤。首先,获取多个分段的第一分段中的N1个故障位的位置。然后,生成(N1 + 1)位的第一段起始码。然后,产生N1个m位缺陷代码。 N1个m位缺陷码跟随第一段起始码,以指示N1个故障位在第一段中的位置,其中N1为零或正整数,而m为正整数。

著录项

  • 公开/公告号US9299460B1

    专利类型

  • 公开/公告日2016-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LITE-ON TECHNOLOGY CORPORATION;

    申请/专利号US201514690859

  • 发明设计人 SHIH-JIA ZENG;JEN-CHIEN FU;

    申请日2015-04-20

  • 分类号G11C16/06;G11C29/00;G11C16/08;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 14:29:01

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号