首页> 外国专利> СПОСІБ ПРОГНОЗУВАННЯ РИЗИКУ ВИНИКНЕННЯ СИНДРОМУ ПОДРАЗНЕНОЇ КИШКИ ПІСЛЯ АНТИБІОТИКОТЕРАПІЇ З ДОПОМОГОЮ ВОДНЕВОГО ДИХАЛЬНОГО ТЕСТУ З ГЛЮКОЗОЮ

СПОСІБ ПРОГНОЗУВАННЯ РИЗИКУ ВИНИКНЕННЯ СИНДРОМУ ПОДРАЗНЕНОЇ КИШКИ ПІСЛЯ АНТИБІОТИКОТЕРАПІЇ З ДОПОМОГОЮ ВОДНЕВОГО ДИХАЛЬНОГО ТЕСТУ З ГЛЮКОЗОЮ

机译:氢呼吸试验预测抗菌治疗后刺激性肠综合征的风险的方法

摘要

Спосіб прогнозування ризику виникнення синдрому подразненої кишки після антибіотикотерапії включає дослідження бактеріального росту, проводять водневий дихальний тест з глюкозою до антибіотикотерапії та через 1 тиждень після її завершення. У хворих із високими значеннями різниці концентрацій водню (РКВ) до лікування (більше 5 ррm), значним зниженням показників РКВ через 1 тиждень після антибіотикотерапії (менше 4 ррm), а також з високим індексом зниження РКВ через 1 тиждень після антибіотикотерапії (більше 3) прогнозують ризик виникнення синдрому подразненої кишки після антибіотикотерапії.
机译:预测抗生素治疗后肠易激综合征风险的方法包括研究细菌生长,在抗生素治疗前和完成后1周用葡萄糖进行氢呼吸试验。在治疗前氢浓度差异(RCT)值高(大于5 ppm)的患者中,抗生素治疗1周后RCT显着下降(小于4 ppm),抗生素治疗1周后RCT降低指数较高(大于3)预测抗生素治疗后肠易激综合征的风险。

著录项

获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号