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apparatus for measuring luminosity distribution and method for measuring the luminosity distribution using the same

机译:测量光度分布的设备和使用该设备测量光度分布的方法

摘要

The present invention relates to a light intensity distribution measuring apparatus. A luminous intensity distribution measuring apparatus according to an embodiment of the present invention includes a sample support unit having a temperature control plate for supporting an illumination sample and adjusting a temperature of the illumination sample, a photometer for measuring a luminous intensity distribution of the illumination sample, And a control unit for controlling the temperature control plate and the driving unit.;Light emitting diode, LED, photometer, photometer, luminous intensity distribution
机译:光强度分布测定装置技术领域本发明涉及光强度分布测定装置。根据本发明实施例的发光强度分布测量设备包括:样本支撑单元,其具有用于支撑照明样本并调节照明样本的温度的温度控制板;用于测量照明样本的发光强度分布的光度计。 ;以及用于控制温度控制板和驱动单元的控制单元。;发光二极管,LED,光度计,光度计,发光强度分布

著录项

  • 公开/公告号KR101576984B1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-12-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 삼성전자주식회사;

    申请/专利号KR20090108524

  • 发明设计人 김희동;강동훈;

    申请日2009-11-11

  • 分类号H01L21/66;H01L33/02;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 14:15:25

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