首页> 外国专利> ILLUMINATION SUBSYSTEMS OF A METROLOGY SYSTEM METROLOGY SYSTEMS AND METHODS FOR ILLUMINATING A SPECIMEN FOR METROLOGY MEASUREMENTS

ILLUMINATION SUBSYSTEMS OF A METROLOGY SYSTEM METROLOGY SYSTEMS AND METHODS FOR ILLUMINATING A SPECIMEN FOR METROLOGY MEASUREMENTS

机译:计量系统的照明子系统计量系统的照明系统和方法

摘要

is provided a method for illuminating a sample for illumination subsystems, instrumentation and measurement systems for measuring systems that measure. ;
机译:提供了一种用于照明样品的方法,该样品用于照明子系统,用于测量的测量系统的仪器和测量系统。 ;

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号