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ION IMPLANTATION SYSTEM AND PROCESS FOR ULTRASENSITIVE DETERMINATION OF TARGET ISOTOPES

机译:离子注入系统及目标同位素的超灵敏测定方法

摘要

A system and process are disclosed for ultrasensitive determination of target isotopes of analytical interest in a sample. Target isotopes may be implanted in an implant area on a high-purity substrate to pre-concentrate the target isotopes free of contaminants. A known quantity of a tracer isotope may also be implanted. Target isotopes and tracer isotopes may be determined in a mass spectrometer. The present invention provides ultrasensitive determination of target isotopes in the sample.
机译:公开了用于超灵敏地确定样品中分析关注的目标同位素的系统和方法。可以将靶同位素注入高纯度衬底上的注入区域中,以预浓缩不含污染物的靶同位素。也可以植入已知数量的示踪同位素。目标同位素和示踪同位素可以在质谱仪中确定。本发明提供了样品中目标同位素的超灵敏测定。

著录项

  • 公开/公告号EP3192094A1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-07-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BATTELLE MEMORIAL INSTITUTE;

    申请/专利号EP20150738501

  • 发明设计人 FARMER ORVILLE T. III;LIEZERS MARTIN;

    申请日2015-05-28

  • 分类号H01J49/04;H01J37/05;G01N1/40;H01J37/317;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 14:05:03

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