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Face material pattern finish simulation apparatus and face material pattern finish simulation method

机译:面材图案精加工模拟装置及面材图案精加工模拟方法

摘要

The face material pattern finish simulation device is configured to obtain information on incident light incident on each pixel of the image indicating the finish of the pattern from information including a normal map and light source information of a light source that emits light irradiated on the surface. The incident light calculation unit (14) for calculating the incident light information, the incident light information, the normal map, the diffuse reflectance information on the pattern, and the gloss information indicating the gloss of the surface of the face material And, from the calculation information including the observation condition information of the face material, the reflected light calculation unit (15) for obtaining the radiance of the reflected light from the surface for each pixel of the image showing the finish of the pattern, A display unit (18) for displaying the image indicating the finish of the pattern on the surface of the face material obtained from the radiance for each pixel.
机译:面部材料图案光洁度模拟装置被配置为从包括法线贴图和发出照射在表面上的光的光源的光源信息的信息中获取指示图案的光洁度的入射在图像的每个像素上的入射光的信息。入射光计算单元(14),用于从入射光信息,入射光信息,法线图,关于图案的漫反射信息以及指示面部材料And的表面光泽的光泽信息来计算包括面部材料的观察条件信息的计算信息,用于对表示图案的精加工的图像的每个像素从表面获得反射光的辐射的反射光计算单元(15),显示单元(18)用于在表示从每个像素的辐射率获得的面部材料的表面上显示指示图案完成的图像。

著录项

  • 公开/公告号JPWO2016203951A1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-06-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 凸版印刷株式会社;

    申请/专利号JP20160565364

  • 发明设计人 阿部 敬由;高瀬 紘一;

    申请日2016-06-01

  • 分类号G06T15;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 13:53:36

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