机译:位移传感器,光谱特征测量设备,色彩测量设备,平面测量物体质量监测设备,位移测量方法,光谱特征测量方法和色度测量方法
公开/公告号US2017023355A1
专利类型
公开/公告日2017-01-26
原文格式PDF
申请/专利权人 YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION;
申请/专利号US201615287869
申请日2016-10-07
分类号G01B11/14;G01J3/50;G01J3/42;G01J3/02;
国家 US
入库时间 2022-08-21 13:47:56