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Circuit and method for testing of an error correction - ability

机译:测试错误校正的电路和方法-能力

摘要

It is a circuit (100) for error correction data and for checking a correctness of a capability of an error correction component (130) of the circuit (100) is provided. The circuit (100) comprises an input interface (110) for receiving an input data word. Furthermore, the circuit (100) a data manipulator (120) for manipulating of one or more bits of a test data word, in order to obtain a modified data word, wherein the test data word the input data word or is composed of the input data word is derived. In addition, the circuit (100) the error correction component (130) for processing of the modified data word. Furthermore, the circuit (100) comprises an evaluation of component (140) for evaluating the correctness of the capability of the error correction component (130) as a function of the processing of the modified data word by the error correction component (130).
机译:提供一种用于纠错数据并且用于检查电路(100)的纠错组件(130)的能力的正确性的电路(100)。电路(100)包括用于接收输入数据字的输入接口(110)。此外,电路(100)是数据操纵器(120),用于操纵测试数据字的一个或多个位,以便获得修改的数据字,其中,测试数据字是输入数据字或由输入数据组成导出数据字。另外,电路(100)用于处理修改后的数据字的纠错组件(130)。此外,电路(100)包括组件(140)的评估,组件(140)根据由纠错组件(130)对修改的数据字的处理来评估纠错组件(130)的能力的正确性。

著录项

  • 公开/公告号DE102015210651A1

    专利类型

  • 公开/公告日2016-12-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;

    申请/专利号DE201510210651

  • 发明设计人 MARTIN PERNER;

    申请日2015-06-10

  • 分类号G11C29/52;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 13:22:47

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