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METHOD AND SYSTEM OF SUB-PIXEL ACCURACY 3D MEASUREMENT USING MULTIPLE IMAGES

机译：使用多图像进行次像素精度3D测量的方法和系统

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摘要

A system, article, and method of sub-pixel accuracy 3D measurement using multiple images.
机译：一种使用多个图像的亚像素精度3D测量的系统，文章和方法。

著录项

  • 公开/公告号EP3241348A4

    专利类型

  • 公开/公告日2018-09-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INTEL CORPORATION;

    申请/专利号EP20150875897

  • 发明设计人 NESTARES OSCAR;SOMANATH GOWRI;

    申请日2015-11-25

  • 分类号G06T7/593;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 13:19:07

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