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Power semiconductor device drive control circuit

机译:功率半导体器件驱动控制电路

摘要

The voltage driver (3) transitions the voltage of the gate (101), which is the control electrode of the power semiconductor element (100), in response to an on command or an off command. The gate voltage detector (4) generates a gate voltage detection signal (VG). The delay signal generation unit (5) generates a delay signal (dVG) obtained by adding a delay time to the detection signal (VG). The difference calculation unit (6) generates a voltage difference signal (VD) between the detection signal (VG) and the delay signal (dVG). The short-circuit state detection unit (7) detects the short-circuit state of the power semiconductor element (100) when the voltage difference signal (VD) exceeds the reference voltage (VR1) during the turn-on operation of the power semiconductor element (100). To do.
机译:电压驱动器(3)响应于导通命令或截止命令而转变作为功率半导体元件(100)的控制电极的栅极(101)的电压。栅极电压检测器(4)产生栅极电压检测信号(VG)。延迟信号生成单元(5)生成通过向检测信号(VG)加上延迟时间而获得的延迟信号(dVG)。差计算单元(6)在检测信号(VG)和延迟信号(dVG)之间产生电压差信号(VD)。当在功率半导体元件的接通操作期间电压差信号(VD)超过参考电压(VR1)时,短路状态检测单元(7)检测功率半导体元件(100)的短路状态。 (100)。去做。

著录项

  • 公开/公告号JPWO2016203937A1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-03-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三菱電機株式会社;

    申请/专利号JP20170524784

  • 发明设计人 堀口 剛司;中山 靖;

    申请日2016-05-30

  • 分类号H03K17/08;H03K17/56;H02M1/08;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 13:06:29

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