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Post processing system and post processing method for electrical impedance tomography images

机译:电阻抗断层图像的后处理系统和后处理方法

摘要

A post processing system for electrical impedance tomography (EIT) images includes a processing device and a post processing device, and the post processing device is coupled to the processing device. The processing device is configured to generate a first EIT image through a solving method based on the measuring data. The measuring data is measured by an electrical impedance tomography instrument. The post processing device is configured to receive the first EIT image and post-process the first EIT image through a neural network algorithm to generate a second EIT image. The neural network algorithm is a feed forward neural network, a recurrent neural network, a convolutional neural network or a deep neural network, and an accuracy of the second electrical impedance tomography image is higher than an accuracy of the first electrical impedance tomography image.
机译:用于电阻抗断层摄影(EIT)图像的后处理系统包括处理设备和后处理设备,并且该后处理设备耦合到该处理设备。处理设备被配置为通过基于测量数据的求解方法来生成第一EIT图像。测量数据通过电阻抗层析成像仪测量。后处理设备被配置为接收第一EIT图像并通过神经网络算法对第一EIT图像进行后处理以生成第二EIT图像。所述神经网络算法为前馈神经网络,递归神经网络,卷积神经网络或深度神经网络,所述第二电阻抗断层图像的精度高于所述第一电阻抗断层图像的精度。

著录项

  • 公开/公告号US10092212B2

    专利类型

  • 公开/公告日2018-10-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY;

    申请/专利号US201715649630

  • 发明设计人 CHARLES TAK-MING CHOI;

    申请日2017-07-13

  • 分类号G06K9;A61B5/053;G06N3/08;A61B5;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:04:20

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