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Optics for Apodizing an Optical Imaging Probe Beam

机译:用于光学成像探头光束变迹的光学元件

摘要

Optics for apodizing an optical imaging probe beam, and methods for fabricating optics for apodizing an optical imaging probe beam are provided. In some embodiments, optics for apodizing an electrical comprises: an optical fiber; a focusing element coaxially aligned with the optical fiber; an element having a cylindrical bore and an angled reflective surface, wherein a first portion of a beam focused by the focusing element enters the cylindrical bore and a second portion of the beam is reflected at an angle to produce a beam with a generally annular-shaped profile.
机译:提供了用于变迹光学成像探测光束的光学器件以及制造用于变迹光学成像探测光束的光学器件的方法。在一些实施例中,用于对电气进行变迹的光学器件包括:光纤;与光纤同轴对准的聚焦元件;具有圆柱形孔和成角度的反射面的元件,其中由聚焦元件聚焦的光束的第一部分进入圆柱形孔,并且光束的第二部分以一定角度反射以产生具有大致环形的光束个人资料。

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