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SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING ASYMMETRIC SPACER STRUCTURES

机译:具有不对称间隔结构的半导体器件

摘要

A semiconductor device including a semiconductor substrate, agate on the semiconductor substrate, a drain doping region in the semiconductor substrate on a first side of the gate, a source doping region in the semiconductor substrate on a second side of the gate, a first spacer structure on a first sidewall of the gate between the gate and the drain doping region, and a second spacer structure on a second sidewall of the gate between the gate and the source doping region. The first spacer structure is composed of a low-k dielectric layer on the first sidewall of the gate and a first spacer material layer on the low-k dielectric layer. The second spacer structure is composed of a second spacer material layer on the second sidewall of the gate.
机译:一种半导体器件,包括半导体衬底,在半导体衬底上的栅极,在栅极的第一侧上的半导体衬底中的漏极掺杂区,在栅极的第二侧上的半导体衬底中的源极掺杂区,第一间隔物结构在栅极和漏极掺杂区之间的栅极的第一侧壁上形成第二隔离层,在栅极和源极掺杂区之间的栅极的第二侧壁上形成第二隔离层结构。第一间隔物结构由在栅极的第一侧壁上的低k介电层和在低k介电层上的第一间隔物材料层组成。第二隔离物结构由在栅极的第二侧壁上的第二隔离物材料层组成。

著录项

  • 公开/公告号US2018190785A1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-07-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 UNITED MICROELECTRONICS CORP.;

    申请/专利号US201615394833

  • 发明设计人 CHING-WEN HUNG;CHUN-HSIEN LIN;

    申请日2016-12-30

  • 分类号H01L29/49;H01L29/78;H01L29/66;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:56:39

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