首页> 外国专利> NIRF DATASET BASED ANALYSIS OF HIGHER EDUCATION INSTITUTIONS (HEIS) IN INDIA - A CRITICAL THINKING PERSPECTIVE

NIRF DATASET BASED ANALYSIS OF HIGHER EDUCATION INSTITUTIONS (HEIS) IN INDIA - A CRITICAL THINKING PERSPECTIVE

机译:基于NIRF数据集的印度高等教育机构(HEIS)分析-批判性思维

摘要

The research work is a novel one and till date analysis of NIRF dataset using Weka 3.8.1 has never been carried out. Considering all the parameters of NIRF datasets in 2016, 2017 and 2018 under university ranking framework, we claim that after applying resample filtering techniques, the Decision Stump classifier gives the best result. Gonsidering reduced parameters (most-significant features) of NIRF datasets in 2018 under university ranking framework, we claim that after applying resample filtering techniques, the Decision Stump classifier gives the best result.
机译:这项研究工作是一项新颖的工作,到目前为止,从未使用Weka 3.8.1进行NIRF数据集分析。考虑到大学排名框架下2016、2017和2018年NIRF数据集的所有参数,我们声称在应用重采样过滤技术后,决策树桩分类器给出了最佳结果。在大学排名框架下,Gonsidering减少了2018年NIRF数据集的参数(最重要的特征),我们声称在应用重采样过滤技术后,决策树桩分类器给出了最佳结果。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号