首页> 外国专利> InN TUNNEL JUNCTION CONTACTS FOR P-CHANNEL GaN

InN TUNNEL JUNCTION CONTACTS FOR P-CHANNEL GaN

机译:P通道GaN的InN隧道结触点

摘要

Methods and apparatus for semiconductor manufacture are disclosed. An example apparatus includes a Gallium Nitride (GaN) substrate; a p-type GaN region positioned on the GaN substrate; a p-type Indium Nitride (InN) region positioned on the GaN substrate and sharing an interface with the p-type GaN region; and a n-type Indium Gallium Nitride (InGaN) region positioned on the GaN substrate and sharing an interface with the p-type InN region.
机译:公开了用于半导体制造的方法和设备。示例设备包括氮化镓(GaN)衬底;位于GaN衬底上的p型GaN区域;位于GaN衬底上并与p型GaN区域共享界面的p型氮化铟(InN)区域;以及位于GaN衬底上并与p型InN区域共享界面的n型氮化铟镓(InGaN)区域。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号