首页> 外国专利> CALIBRATION REFERENCE POINT ACQUISITION SYSTEM AND CALIBRATION REFERENCE POINT ACQUISITION METHOD

CALIBRATION REFERENCE POINT ACQUISITION SYSTEM AND CALIBRATION REFERENCE POINT ACQUISITION METHOD

机译:校准参考点获取系统和校准参考点获取方法

摘要

Disclosed is a calibration reference point acquisition system for acquiring a calibration reference point to calibrate geometric distortion of an imaging device. The calibration reference point acquisition system includes a pattern light display unit configured to display pattern light to be imaged by the imaging device; a relative orientation change unit configured to change a relative orientation of the imaging device with respect to the pattern light display unit; and a processor configured to calculate a calibration reference point based on the imaged pattern light captured by the imaging device while changing the relative orientation of the imaging device, wherein the pattern light display unit displays the pattern light by adjusting an amount of light in each of regions of the pattern light in multiple stages.
机译:公开了一种用于获取校准参考点以校准成像装置的几何变形的校准参考点获取系统。校准基准点获取系统包括:图案光显示单元,被配置为显示将由成像装置成像的图案光;以及相对取向改变单元,其被配置为改变成像装置相对于图案光显示单元的相对取向;处理器,其被配置为在改变摄像装置的相对朝向的同时,基于摄像装置拍摄的摄像图案光来计算校准基准点,其中,图案光显示部通过调整各摄像装置中的光量来显示图案光。图案的多个区域分多个阶段发光。

著录项

  • 公开/公告号EP3537103A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-09-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RICOH COMPANY LTD.;

    申请/专利号EP20150008916

  • 发明设计人 HORITA YUUKI;KISHIWADA JUN;

    申请日2019-02-22

  • 分类号G01B21/04;G06T7/80;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 12:29:41

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号