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LOW POWER DEBUG ARCHITECTURE FOR SYSTEM-ON-CHIPS (SOCs) AND SYSTEMS

机译:片上系统(SOC)和系统的低功耗调试架构

摘要

In an embodiment, a debug architecture for a processor/System on Chip (SoC) etc., includes a central debug unit to receive one or more functional debug signals, the central debug unit further configured to receive debug information from at least one firmware source, at least one software source, and at least one hardware source, and to output compressed debug information; a system trace module to receive the compressed debug information and to time stamp the compressed debug information; a parallel trace interface to receive the time stamped compressed debug information and to parallelize the time stamped compressed debug information; and an output unit to output the parallelized time stamped compressed debug information on one of a plurality of output paths. Other embodiments are described and claimed.
机译:在一个实施例中,用于处理器/片上系统(SoC)等的调试架构包括中央调试单元,以接收一个或多个功能调试信号,该中央调试单元还被配置为从至少一个固件源接收调试信息。 ,至少一个软件源和至少一个硬件源,并输出压缩的调试信息;系统跟踪模块,用于接收压缩后的调试信息并为压缩后的调试信息加上时间戳;并行跟踪接口,用于接收带有时间戳的压缩调试信息,并使带有时间戳的压缩调试信息并行化;输出单元,用于在多个输出路径之一上输出并行的带时间戳的压缩调试信息。描述和要求保护其他实施例。

著录项

  • 公开/公告号EP3191965A4

    专利类型

  • 公开/公告日2019-01-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INTEL CORPORATION;

    申请/专利号EP20150840132

  • 发明设计人 MENON SANKARAN;TRP BABU;KUEHNIS ROLF;

    申请日2015-08-13

  • 分类号G06F11/36;G06F13/14;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 12:29:28

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