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Test specimen carrier, transport unit and test specimen analyzer

机译:试样载体,运输单元和试样分析仪

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test piece mount of an analyzer for mounting a test piece, which is capable of preventing sticking of a test piece thereon, and to provide a conveyor unit and a test piece analyzer.SOLUTION: A test piece mount 12 comprises a bottom plate 21 on which a test piece 11 can be mounted, a pair of side plates 22, 22 protruding from respective edges of the bottom plate 21 and extending along a longitudinal direction of the bottom plate 21 on a side of a first surface 21a of the bottom plate 21, and an extension plate 23, 23 extending outward from a protruding edge of each side plate 22. The bottom plate 21 has a plurality of bottom plate protrusions 24a, which allow for supporting a test piece 11, formed on the first surface 21a.SELECTED DRAWING: Figure 11
机译:解决的问题:提供一种用于分析仪的试样安装座,用于安装试样,该试样安装座能够防止试样粘附在其上,并且提供一种输送单元和试样分析仪。图12所示的装置包括能够在其上安装测试件11的底板21,从底板21的各个边缘突出并且在第一侧上沿着底板21的纵向方向延伸的一对侧板22、22。底板21的表面21a,以及从每个侧板22的突出边缘向外延伸的延伸板23、23。底板21具有多个底板突起24a,其用于支撑测试件11,在第一表面21a上。图11

著录项

  • 公开/公告号JP6549962B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-07-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 栄研化学株式会社;

    申请/专利号JP20150201504

  • 发明设计人 楠原 大志;

    申请日2015-10-09

  • 分类号G01N35/04;G01N1;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 12:20:26

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