首页> 外国专利> Method and system for particle characterization in harsh environments

Method and system for particle characterization in harsh environments

机译:在恶劣环境下进行颗粒表征的方法和系统

摘要

Disclosed herein is a novel optical particle characterization system and method of use that can be applied to harsh environments. By separating the sensing components from the electronics unit and using optical fibers for interconnection, only the sensing components need to endure harsh environmental conditions. This reduces the design constraints on the electronics unit and permits the incorporation of optical components into the sensing probe that can withstand high-temperature and high-pressure environments.
机译:本文公开了可以应用于恶劣环境的新颖的光学粒子表征系统和使用方法。通过将传感组件与电子单元分开并使用光纤进行互连,只有传感组件才需要承受恶劣的环境条件。这减少了对电子单元的设计限制,并允许将光学组件合并到可以承受高温和高压环境的传感探头中。

著录项

  • 公开/公告号US10359350B1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HAI LIN;GREGOR ARTHUR WALDHERR;

    申请/专利号US201815878117

  • 发明设计人 HAI LIN;GREGOR ARTHUR WALDHERR;

    申请日2018-01-23

  • 分类号G01N21;G01N15/02;G01N15;G01N15/14;G01N21/53;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:15:54

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号