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Highly flexible performance counter and system debug module

机译:高度灵活的性能计数器和系统调试模块

摘要

According to one general aspect, an apparatus may include a plurality of performance and debug monitoring circuits (PDMCs). Each performance and debug monitoring circuit (PDMC) may include an input stage, a combinatorial stage, and a counter. The input stage may be configured to receive a plurality of input signals, wherein the input signals include: signals from other performance and debug monitoring circuits, signals from combinatorial logic circuits, and configuration values. The combinatorial stage may be configured to perform one or more logical operations on a selected sub-set of the input signals. The counter may be configured to increment based, at least in part, upon a result of the combinatorial stage.
机译:根据一个总体方面,一种装置可以包括多个性能和调试监视电路(PDMC)。每个性能和调试监视电路(PDMC)可以包括一个输入级,一个组合级和一个计数器。输入级可以被配置为接收多个输入信号,其中,输入信号包括:来自其他性能和调试监视电路的信号,来自组合逻辑电路的信号以及配置值。组合级可以被配置为对输入信号的所选子集执行一个或多个逻辑运算。计数器可以被配置为至少部分地基于组合阶段的结果来递增。

著录项

  • 公开/公告号US10386410B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号US201715464334

  • 发明设计人 LAWRENCE H. RUBIN;DAVID C. TANNENBAUM;

    申请日2017-03-20

  • 分类号G01R31/28;G01R31/317;G06F11;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:15:53

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