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Device degradation cause estimation method and device

机译:设备退化原因估计方法和设备

摘要

A degradation cause estimation device is provided with a degradation detector for detecting the amount of degradation undergone by a device, a state observation device for detecting observation values for internal portions, values observed from outside, or device control and operation information, a degradation section detector for detecting a section undergoing degradation using the output values of the degradation detector, and a cause estimator for estimating the cause of the degradation using the device state observations for the degradation section, and outputs the cause for the degradation section.
机译:劣化原因推定装置具备:劣化检测器,其用于检测装置的劣化量;状态观察装置,其用于检测内部的观察值;从外部观察到的值;或者装置控制和操作信息;劣化部检测器。用于使用劣化检测器的输出值来检测经历劣化的部分,以及用于使用劣化部分的设备状态观察来估计劣化原因的原因估计器,并输出用于劣化部分的原因。

著录项

  • 公开/公告号US10234360B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-03-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HITACHI LTD.;

    申请/专利号US201415328676

  • 发明设计人 MUNETOSHI UNUMA;TAKASHI SAEKI;SHINYA YUDA;

    申请日2014-07-30

  • 分类号G01M17/007;B60W50;G05B23/02;G07C5/08;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:13:38

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