首页> 外国专利> Finfet including improved epitaxial topology

Finfet including improved epitaxial topology

机译:Finfet包括改进的外延拓扑

摘要

A semiconductor device includes a semiconductor substrate having a plurality of semiconductor fins formed on an upper surface thereof. An epitaxial material is formed on the upper surface of the semiconductor substrate and on an outer surface of the semiconductor fins. The epitaxial material includes an epi upper surface having a lower region that contacts the semiconductor fins and an upper region formed above the lower region. The upper region extends parallel with an upper surface of the semiconductor fins.
机译:半导体器件包括具有形成在其上表面上的多个半导体鳍的半导体衬底。在半导体衬底的上表面和半导体鳍的外表面上形成外延材料。外延材料包括外延上表面,其具有与半导体鳍接触的下部区域和形成在下部区域上方的上部区域。上部区域与半导体鳍的上表面平行地延伸。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号