首页> 外国专利> Method and Apparatus for Measuring Inflorescence, Seed and/or Seed Yield Phenotype

Method and Apparatus for Measuring Inflorescence, Seed and/or Seed Yield Phenotype

机译:测量花序,种子和/或种子产量表型的方法和设备

摘要

The invention relates to a method and apparatus for measuring inflorescence, seed and/or seed yield phenotype of a plant. More particularly, the invention relates to a method and apparatus for high throughput analysis of inflorescence, seed and/or seed yield phenotype of a panicle-like bearing plant.
机译:本发明涉及一种用于测量植物的花序,种子和/或种子产量表型的方法和设备。更具体地,本发明涉及一种用于高产分析圆锥花序状植物的花序,种子和/或种子产量表型的方法和设备。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号