首页> 外国专利> DETERMINISTIC READ DISTURB COUNTER-BASED DATA CHECKING FOR NAND FLASH

DETERMINISTIC READ DISTURB COUNTER-BASED DATA CHECKING FOR NAND FLASH

机译:基于确定性读取干扰计数器的NAND数据检查

摘要

A data storage device comprises a non-volatile semiconductor memory device and a solid-state drive controller communicatively coupled to the non-volatile semiconductor memory device. The non-volatile semiconductor memory device can store data in memory blocks. The solid-state drive controller can, periodically, retrieve counts from a counter table, select a predetermined number of memory blocks corresponding to the lowest counts, and determine an integrity of the stored data in each of the predetermined number of memory blocks. Each count can correspond to a difference between a count limit and a number of read operations performed on one of the memory blocks.
机译:数据存储设备包括非易失性半导体存储设备和通信地耦合到非易失性半导体存储设备的固态驱动控制器。非易失性半导体存储器件可以将数据存储在存储块中。固态驱动器控制器可以定期地从计数器表中检索计数,选择​​与最低计数相对应的预定数量的存储块,并确定每个预定数量的存储块中存储的数据的完整性。每个计数可以对应于计数极限与在存储块之一上执行的读取操作的数量之间的差。

著录项

  • 公开/公告号US2019079684A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-03-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TOSHIBA MEMORY CORPORATION;

    申请/专利号US201816186836

  • 发明设计人 NEIL BUXTON;

    申请日2018-11-12

  • 分类号G06F3/06;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:08:00

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号