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MICROSTRUCTURE MODULATION FOR METAL WAFER-WAFER BONDING

机译:金属晶圆-晶圆键合的微观结构调制

摘要

A three-dimensional (3D) bonded semiconductor structure is provided in which a first bonding oxide layer of a first semiconductor structure is bonded to a second bonding oxide layer of a second semiconductor structure. Each of the first and second bonding oxide layers has a metallic bonding structure embedded therein, wherein each metallic bonding structure contains a columnar grain microstructure. Furthermore, at least one columnar grain extends across a bonding interface that is present between the metallic bonding structures. The presence of the columnar grain microstructure in the metallic bonding structures, together with at least one columnar grain microstructure extending across the bonding interface between the two bonded metallic bonding structures, can provide a 3D bonded structure having mechanical bonding strength and electrical performance enhancements.
机译:提供三维(3D)键合半导体结构,其中第一半导体结构的第一键合氧化物层键合至第二半导体结构的第二键合氧化物层。第一和第二结合氧化物层中的每一个具有嵌入其中的金属结合结构,其中每个金属结合结构包含柱状晶粒微结构。此外,至少一个柱状晶粒跨过存在于金属结合结构之间的结合界面延伸。金属结合结构中柱状晶粒微观结构的存在以及至少一个横跨两个结合的金属结合结构之间的结合界面延伸的柱状晶粒微观结构的存在,可以提供具有机械结合强度和电性能增强的3D结合结构。

著录项

  • 公开/公告号US2019164939A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-05-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION;

    申请/专利号US201916245979

  • 发明设计人 CHIH-CHAO YANG;

    申请日2019-01-11

  • 分类号H01L25/065;H01L23/532;H01L21/306;H01L23;H01L23/522;H01L21/324;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:06:45

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