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PROBABILISTIC NEURON CIRCUITS

机译:概率神经元电路

摘要

Neuron circuit structures are presented which employ magnetic tunnel junction (MTJ) elements that change state probabilistically in response to application of electrical source currents that emulate synaptic activity. Some implementations form probabilistic neuron circuits using homogeneous perpendicular spin-transfer torque (STT) MTJ elements. These neuron circuits include a perpendicular STT reference MTJ element coupled via an electrical node with a perpendicular STT neuron MTJ element that can change state. The electrical node for each neuron circuit couples a neuron MTJ element or “perturbation” element to a reference element, and also to an electrical current employed to influence probabilistic magnetization state changes in the perturbation MTJ element. A read current can be applied to the perturbation element to produce an output voltage at the electrical node indicative of a magnetization state of the perturbation element.
机译:提出了使用磁隧道结(MTJ)元件的神经元电路结构,该元件响应于模拟突触活动的电源电流的应用而概率地改变状态。一些实施方式使用均质的垂直自旋传递扭矩(STT)MTJ元素形成概率神经元电路。这些神经元电路包括通过电节点与可改变状态的垂直STT神经元MTJ元素耦合的垂直STT参考MTJ元素。每个神经元电路的电节点将神经元MTJ元素或“扰动”元素耦合到参考元素,还耦合到用来影响扰动MTJ元素中的概率磁化状态变化的电流。可以将读取电流施加至扰动元件,以在电节点处产生指示扰动元件的磁化状态的输出电压。

著录项

  • 公开/公告号US2019272870A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-09-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SANDISK TECHNOLOGIES LLC;

    申请/专利号US201815910606

  • 发明设计人 WON HO CHOI;YOUNG-SUK CHOI;

    申请日2018-03-02

  • 分类号G11C11/54;H01L43/08;G11C11/16;H01F10/32;H01L27/22;H01L43/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:06:00

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