首页> 外国专利> method for calculating an optimal offset distance for surface position measurements, computer storage media, and coordinate positioning apparatus

method for calculating an optimal offset distance for surface position measurements, computer storage media, and coordinate positioning apparatus

机译:用于表面位置测量的最佳偏移距离的计算方法,计算机存储介质和坐标定位设备

摘要

"Method for Calculating an Optimal Distance for Surface Position Measurements, Computer Storage Bracket, and Coordinate Positioning Apparatus" describes a method for calculating an optimum distance (74) for surface position measurements. to be acquired by a coordinate positioning apparatus which comprises a measuring probe (4). the coordinate positioning apparatus may comprise a machine tool, and the measuring probe (4) may comprise a touch actuating probe having a deflectable stylus (12). The method comprises the step of calculating an optimal offset distance (74) using at least one measured acceleration characteristic of said coordinate positioning apparatus. In this way the measuring cycle times can be optimized.
机译:“用于表面位置测量的最佳距离的计算方法,计算机存储支架和坐标定位设备”描述了一种用于表面位置测量的最佳距离(74)的计算方法。由包括测量探头(4)的坐标定位设备获取。坐标定位设备可以包括机床,并且测量探针(4)可以包括具有可偏转触针(12)的触摸致动探针。该方法包括以下步骤:使用所述坐标定位设备的至少一个测得的加速度特性来计算最佳偏移距离(74)。这样可以优化测量周期。

著录项

  • 公开/公告号BRPI1007058B8

    专利类型

  • 公开/公告日2019-09-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RENISHAW PLC;

    申请/专利号BR2010PI07058

  • 申请日2010-01-12

  • 分类号G01B21/04;G05B19/401;

  • 国家 BR

  • 入库时间 2022-08-21 12:02:59

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号