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COMPLEMENTARY METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR COMPATIBLE PATTERNING OF SUPERCONDUCTING NANOWIRE SINGLE-PHOTON DETECTORS

机译:超导纳米单光子探测器的互补金属氧化物半导体兼容图案

摘要

A device includes a first semiconductor oxide layer (204); a portion of a semiconductor layer (206a) disposed on the first semiconductor oxide layer (204); and a second semiconductor oxide layer (208) including a first region disposed on the portion of the semiconductor layer and a second region disposed on the first semiconductor oxide layer. A thickness of the first region is less than a predefined thickness. The device also includes an etch stop layer (210) disposed on the second semiconductor oxide layer; a plurality of distinct portions of a third semiconductor oxide layer (212) disposed on the etch stop layer and exposing one or more distinct portions of the etch stop layer over the semiconductor portion; and a plurality of distinct portions of a superconducting layer (214) disposed on the plurality of distinct portions of the third semiconductor oxide layer and the exposed one or more distinct portions of the etch stop layer.
机译:器件包括第一半导体氧化物层(204);设置在第一半导体氧化物层(204)上的半导体层(206a)的一部分;第二半导体氧化物层(208)包括设置在该半导体层的该部分上的第一区域和设置在该第一半导体氧化物层上的第二区域。第一区域的厚度小于预定厚度。该器件还包括设置在第二半导体氧化物层上的蚀刻停止层(210);第三半导体氧化物层(212)的多个不同部分设置在蚀刻停止层上,并且在半导体部分上方暴露蚀刻停止层的一个或多个不同部分;以及设置在第三半导体氧化物层的多个不同部分和蚀刻停止层的暴露的一个或多个不同部分上的超导层(214)的多个不同部分。

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