首页> 外国专利> A DEVICE FOR SCATTER CORRECTION IN AN X-RAY IMAGE AND A METHOD FOR SCATTER CORRECTION IN AN X-RAY IMAGE

A DEVICE FOR SCATTER CORRECTION IN AN X-RAY IMAGE AND A METHOD FOR SCATTER CORRECTION IN AN X-RAY IMAGE

机译:X射线图像中的散射校正装置和X射线图像中的散射校正方法

摘要

The present invention relates to a device for scatter correction in an X-ray image, the X-ray image (30, 40) having a superimposed structured pattern, the device (1) comprising: an X-ray image receiving element (10); a pattern remover (11); and a first subtraction module (12); wherein the X-ray image receiving element (10) is configured to receive an X-ray image (30, 40) comprising a superimposed structured pattern (31); wherein the pattern remover (11) is configured to remove the structured pattern (31) from the X-ray image (30, 40) resulting in a pattern corrected X-ray image (43); and wherein the first subtraction module (12) is configured to subtract the pattern corrected X-ray image (33, 43) from the X-ray image (40) resulting in a structured pattern image (32, 42). The invention improves the scatter correction of an X-ray image.
机译:X射线图像中的散射校正装置技术领域本发明涉及一种用于X射线图像中的散射校正的装置,该X射线图像(30、40)具有重叠的结构图案,该装置(1)包括:X射线图像接收元件(10)。 ;图案去除剂(11);第一减法模块(12);其中,所述X射线图像接收元件(10)被配置为接收包括叠加的结构化图案(31)的X射线图像(30、40);其中,所述图案去除器(11)被配置为从所述X射线图像(30、40)去除所述结构化图案(31),从而得到图案校正的X射线图像(43);其中第一减法模块(12)被配置为从X射线图像(40)中减去经模式校正的X射线图像(33、43),从而得到结构化的模式图像(32、42)。本发明改善了X射线图像的散射校正。

著录项

  • 公开/公告号EP3490455B1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-02-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KONINKLIJKE PHILIPS N.V.;

    申请/专利号EP20180745512

  • 发明设计人 MAACK HANNS-INGO;

    申请日2018-07-09

  • 分类号A61B6;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 11:40:04

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号