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POSITION MEASUREMENT METHOD, DISTANCE CALCULATION METHOD, STRUCTURE MANUFACTURING METHOD, DISTANCE CALCULATION DEVICE, AND COMPUTER PROGRAM

机译:位置测量方法,距离计算方法,结构制造方法,距离计算设备和计算机程序

摘要

To make it possible to measure a position of a boundary surface of a layer of a multilayer structure by increasing a detection signal of electromagnetic wave reflected on a position corresponding to the boundary surface even when the detection signal of the electromagnetic wave reflected on the boundary surface is small.SOLUTION: In a position measurement method of measuring a position of a boundary surface of a layer of a multilayer structure by emitting electromagnetic wave to the multilayer structure, the position of the boundary surface is measured by arranging a reflector on the boundary surface for reflecting the electromagnetic wave, emitting the electromagnetic wave to the multilayer structure, and detecting the electromagnetic wave reflected by the reflector.SELECTED DRAWING: Figure 2
机译:通过增加反射在对应于边界表面的位置上的电磁波的检测信号,即使当电磁波的检测信号在边界表面上反射时,也能够通过测量多层结构的层的边界表面的位置来进行测量解决方案:在通过向多层结构发射电磁波来测量多层结构的层的边界表面的位置的位置测量方法中,通过在边界表面上布置反射器来测量边界表面的位置用于反射电磁波,将电磁波发射到多层结构并检测反射器反射的电磁波。图2

著录项

  • 公开/公告号JP2020071048A

    专利类型

  • 公开/公告日2020-05-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 PIONEER ELECTRONIC CORP;

    申请/专利号JP20180202964

  • 发明设计人 TANAKA MANA;KOBAYASHI HIDEKI;

    申请日2018-10-29

  • 分类号G01B11;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 11:35:00

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