首页> 外国专利> Method and optical system for obtaining tomographic distribution of wavefront of electromagnetic field

Method and optical system for obtaining tomographic distribution of wavefront of electromagnetic field

机译:获取电磁场波前断层分布的方法和光学系统

摘要

The invention comprises a step of measuring a distribution function of light intensity in at least two images at different optical planes having optical path differences (101, 102), a wavefront (104) of light used in the optical system (100). And a method for two-dimensionally reproducing. In particular, the method is suitable for examining the tomographic distribution of the wavefront of the electromagnetic field with an image detector (eg, any standard two-dimensional camera).
机译:本发明包括在具有光程差(101、102),在光学系统(100)中使用的光的波前(104)的不同光学平面上的至少两个图像中测量光强度的分布函数的步骤。以及用于二维再现的方法。特别地,该方法适合于利用图像检测器(例如,任何标准的二维照相机)来检查电磁场的波前的断层摄影分布。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号