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Spectral reflectance design method, spectral reflectance design device, and spectral reflectance design program

机译:光谱反射率设计方法,光谱反射率设计装置和光谱反射率设计程序

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spectral reflectance design method capable of designing spectral reflectances of various waveforms.SOLUTION: A spectral reflectance design method according to an embodiment of the present invention includes: a spectral reflectance calculating step S4 of calculating the weighted average spectral reflectance R(λ,P) by performing a weighted average for a theoretical value RT(λ,t) of the spectral reflectance for each thickness t of thin films by a distribution function(t,P) including a distribution parameter P; and an analysis step S5 of calculating the distribution parameter P by applying the weighted average spectral reflectance R(λ,P) to an actual value RM(λ) of the spectral reflectance of the thin film.SELECTED DRAWING: Figure 9
机译:解决的问题:提供一种能够设计各种波形的光谱反射率的光谱反射率设计方法。解决方案:根据本发明实施例的光谱反射率设计方法包括:光谱反射率计算步骤S4,计算加权平均光谱通过利用包括分布参数P的分布函数(t,P)对薄膜的每个厚度t进行光谱反射率的理论值RT(λ,t)的加权平均值,来获得反射率R(λ,P);以及分析步骤S5,其通过将加权平均光谱反射率R(λ,P)应用于薄膜的光谱反射率的实际值RM(λ),来计算分布参数P。图9

著录项

  • 公开/公告号JP6733231B2

    专利类型

  • 公开/公告日2020-07-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三菱ケミカル株式会社;

    申请/专利号JP20160051683

  • 发明设计人 篠浦 康隆;杉原 理規;

    申请日2016-03-15

  • 分类号G02B5/28;G01J3/46;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 11:33:15

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