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Antenna measurement system and antenna measurement method

机译:天线测量系统及天线测量方法

摘要

A distance between a center of a first probe antenna and a center of a second probe antenna in a measurement plane is longer than a distance between the center of the first probe antenna and a center of a third probe antenna in the measurement plane by a distance between two measurement positions adjacent to each other in a horizontal direction. A distance between a center of a fourth probe antenna and a center of a fifth probe antenna in the measurement plane is longer than a distance between the center of the fourth probe antenna and a center of a sixth probe antenna in the measurement plane by a distance between two measurement positions adjacent to each other in a vertical direction.
机译:在测量平面中,第一探针天线的中心与第二探针天线的中心之间的距离比在测量平面中的第一探针天线的中心与第三探针天线的中心之间的距离长。在水平方向上彼此相邻的两个测量位置之间。在测量平面中第四探针天线的中心与第五探针天线的中心之间的距离比在测量平面中第四探针天线的中心与第六探针天线的中心之间的距离长。在垂直方向上彼此相邻的两个测量位置之间。

著录项

  • 公开/公告号JP6633604B2

    专利类型

  • 公开/公告日2020-01-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 アンリツ株式会社;

    申请/专利号JP20170245462

  • 发明设计人 河村 尚志;山本 綾;待鳥 誠範;

    申请日2017-12-21

  • 分类号G01R29/10;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 11:33:07

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