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PHOTOMASK PELLICLE GLUE RESIDUE REMOVAL

机译:去除光掩膜胶残留物

摘要

Embodiments described herein generally relate to an apparatus and methods for removing a glue residue from a photomask. The glue residue may be exposed when a pellicle is removed from the photomask. Before a new pellicle can be adhered to the photomask, the glue residue may be removed. To remove the glue residue, a laser beam may be projected through a lens and focused on a surface of the glue residue. The glue residue may be ablated from the photomask by the laser beam.
机译:本文描述的实施例大体涉及用于从光掩模去除胶残留物的设备和方法。当从光掩模上去除防护膜时,胶水残留物可能会暴露出来。在可以将新的防护膜粘附到光掩模之前,可以清除残留的胶水。为了去除胶残留物,可以将激光束投射通过透镜并聚焦在胶残留物的表面上。胶残留物可以通过激光束从光掩模上烧蚀。

著录项

  • 公开/公告号US2020290339A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-09-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 APPLIED MATERIALS INC.;

    申请/专利号US202016885469

  • 发明设计人 BANQIU WU;ELI DAGAN;

    申请日2020-05-28

  • 分类号B41C1/10;G03F7/20;H01L21/027;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 11:27:05

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