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METHOD FOR CORRECTING MEASUREMENT DATA OF AN ANALYSIS SENSOR AND ANALYSIS SENSOR WITH CORRECTION OF MEASUREMENT DATA

机译:校正分析传感器的测量数据的方法以及校正测量数据的分析传感器

摘要

The present disclosure relates to a method for correcting measurement data of an analysis sensor. The method includes providing an analysis sensor having a first sensor unit, a data memory and a computing unit. The data memory has sensor-specific or sensor-type-specific parameter data which represent a predetermined field of application of the analysis sensor. The method also includes collecting measurement data through the first sensor unit, reading out the sensor-specific parameter data from the data memory through the computing unit, and correcting the collected measurement data using the sensor-specific parameter data through the computing unit in order to generate corrected measurement data.
机译:本发明涉及一种用于校正分析传感器的测量数据的方法。该方法包括提供具有第一传感器单元,数据存储器和计算单元的分析传感器。数据存储器具有传感器专用或传感器类型专用的参数数据,它们代表分析传感器的预定应用领域。该方法还包括:通过第一传感器单元收集测量数据;通过计算单元从数据存储器中读出传感器特定参数数据;以及通过计算单元使用传感器特定参数数据校正收集的测量数据,以便生成校正后的测量数据。

著录项

  • 公开/公告号US2020319000A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-10-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ENDRESS+HAUSER CONDUCTA GMBH+CO. KG;

    申请/专利号US202016843614

  • 发明设计人 MICHAEL HANKO;

    申请日2020-04-08

  • 分类号G01D5/244;G01N27/416;G01D3/036;G01D18;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 11:20:49

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