首页> 外国专利> SYSTEMS AND METHODS FOR IMPROVED AXIAL RESOLUTION IN MICROSCOPY USING PHOTOSWITCHING AND STANDING WAVE ILLUMINATION TECHNIQUES

SYSTEMS AND METHODS FOR IMPROVED AXIAL RESOLUTION IN MICROSCOPY USING PHOTOSWITCHING AND STANDING WAVE ILLUMINATION TECHNIQUES

机译:使用光开关和驻波照明技术改善显微学中的轴向分辨率的系统和方法

摘要

Various embodiments for systems and methods for improved axial resolution in a microscopy using photoswitching and standing-wave illumination techniques are described.
机译:描述了用于在使用光开关和驻波照明技术的显微镜中改善轴向分辨率的系统和方法的各种实施例。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号