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Hybrid overlay target design for imaging-based overlays and scatterometry-based overlays

机译:混合叠加目标设计,用于基于成像的叠加和基于散射测量的叠加

摘要

Designs for hybrid overlay target designs that include a target area having both an imaging based overlay target and a scatterometry based target are disclosed. Imaging-based overlay target designs may include side-by-side grating structures. The scatterometry-based overlay target design at different locations within the target area may include a lattice to lattice structure. Also disclosed is a method and system for measuring a hybrid overlay target design with both an imaging optical system and a scatterometry system for measuring the hybrid overlay target design.
机译:公开了用于包括目标区域的混合覆盖目标设计的设计,该目标区域具有基于成像的覆盖目标和基于散射测量的目标。基于成像的覆盖目标设计可以包括并排光栅结构。在目标区域内不同位置处的基于散射测量的覆盖目标设计可以包括晶格间结构。还公开了一种用于利用成像光学系统和散射测量系统两者来测量混合覆盖物目标设计的方法和系统,用于测量混合覆盖物目标设计。

著录项

  • 公开/公告号KR20200010585A

    专利类型

  • 公开/公告日2020-01-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 케이엘에이 코포레이션;

    申请/专利号KR20207001707

  • 发明设计人 그리디 데이비드;

    申请日2018-06-14

  • 分类号G03F7/20;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 11:08:01

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